Microscopía Electrónica
Microscopio electrónico de Barrido SEM
Genera imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra mediante el barrido con un haz de electrones, revelando su topografía y composición
Microscopio electrónico de Transmisión TEM 100
Permite observar la estructura interna de muestras ultrafinas mediante el paso de un haz de electrones a través de ellas, logrando imágenes con resolución a nivel atómico.
Microscopio electrónico de Transmisión TEM 200
Utiliza un haz de electrones acelerados a alta tensión para atravesar muestras ultrafinas, ofreciendo
imágenes con resolución nanométrica y análisis estructural detallado.
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