Difractometría de Rayos X en polvo

La radiación procedente de un tubo de rayos X de longitud de onda λ incide sobre la muestra con un espaciado interplanar, si tiene estructura cristalina. Este haz sale reflejado con un ángulo θ de acuerdo con la ley de Bragg (sen θ =nλ/2d). Un detector se mueve, variando el ángulo que forma con la muestra y va registrando dicho haz reflejado. El resultado de intensidad en función del ángulo proporciona información sobre la estructura cristalina de la muestra.

Análisis de fases cristalinas de muestras:

• Polvo, materiales varios
• Metálicas de forma plana
• Polímeros de forma plana
• Cerámicas de forma plana

                Micromuestra

                Tª baja hasta -180 Cº

                Tª alta hasta 1200 Cº

Las muestras deben ir acompañadas de la hoja de solicitud de servicios generada en la plataforma Infrared una vez realizado el registro en la misma. El usuario debe rellenar todos los campos de la solicitud de servicios que conozca, con el fin de obtener el mejor resultado posible.

Equipo de Difracción de Rayos X (DRX) Bruker Discover D8.